哪些因素会导致全谱直读型ICP光谱仪的分析出现误差？

　　全谱直读型ICP光谱仪属于精密测量仪器，光学系统微小的变化(如结构件的热胀冷缩等)即会引起很大的测量误差，因此光谱仪在设计时会对光学系统进行恒温控制。但即使如此，外界温度的变化仍会影响恒温系统的热平衡状态，引起测量误差，因此为了测量结果的精密度，应尽可能减小使用过程中环境温度的波动，较大不应*过5℃。
 

　　全谱直读型ICP光谱仪分析的误差的性质及其产生的原因：
 

　　1.系统误差也叫可测误差，它是由于分析过程中某些经常发生的比较固定的原因所造成的，它是可以通过测量而确定的误差。通常系统误差偏向一方，或偏高，或偏低。例如光谱标样，经过足够多次测量，发现分析结果平均值与该标样证书上的含量值始终有一差距，这就产生一个固定误差即系统误差，系统误差可以看作是对测定值的校正值，它决定了测定结果的准确度。
 

　　2.偶然误差是一种无规律性的误差，又称不可测误差，或随机误差，它是由于某些偶然的因素(如测定环境的温度、湿度、振动、灰尘、油污、噪音、仪器性能等的微小的随机波动)所引起的，其性质是有时大，有时小，有时正，有时负，难以察觉，难以控制。它决定了测定结果的精密度。
 

　　3.过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，没有一定的规律可循，只能作为过失。不管造成过失误差的具体原因如何，只要确知存在过失误差，就将这一组测定值数据以异常值舍弃。
 

　　在全谱直读型ICP光谱仪的分析过程中，从开始取样到后出分析数据，是由若干个操作环节组成的，每一环节都产生一定的误差。当无过失误差时，光谱分析的总误差主要是系统误差和偶然误差的总和，便决定了光电直读光谱分析方法的正确度。分析正确度包含二方面内容:正确性和再现性。正确性表示分析结果与真实含量的接近程度，系统误差小，正确性高。再现性(精密度)表示多次分析结果的离散程差和偶然误差或系统误差和偶然误差都很小时，精密度就等于正确度。